熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口的定義及鏡檢方式

一、熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口的定義
光是一種電磁波，其電磁振動垂直于傳播方向。根據(jù)振動的特點，可把光分為自然光與偏振光。自然光是一切普通光源所發(fā)出的光波，如太陽光、燈光等，其振動特點是在垂直于光波傳播方向的平面內，各方向上都有等振幅的振動。

自然光波經(jīng)過反射、折射、雙折射或選擇吸收等作用后，可以轉變?yōu)橹辉谝粋�固定方向上振動的光波，稱平面偏光，簡稱偏振光或偏光。將自然光轉變?yōu)槠�光的裝置稱偏光鏡。熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口是裝有兩個偏光鏡的顯微鏡。

當光波由一種介質傳到另一種介質時，在兩種介質的分界面上將產生反射和折射。對折射而言，第一（入射）和第二（折射）介質的特征，可用光波在該二種介質中的傳播速度之比——相對折射率來表征，故折射率是鑒定透明礦物的可靠常數(shù)之一。

對晶質礦物來說，折射率是受其對稱性控制的，即光波在等軸晶系晶體中傳播時，雖然發(fā)生折射，但其折射率不因光波的振動方向不同而發(fā)生改變；在其它晶系晶體中，其傳播速度隨振動方向不同而發(fā)生變化，因而其折射率也因振動方向不同而改變（沿特殊方向入射者除外）。利用熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口的不同偏光組合（單偏光、正交偏光、錐光）及附件，可觀察和測定上述折射率的變化。

二、熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口鏡檢方式
（一）正相鏡檢（Orthoscopic）:又稱無畸變鏡檢，特點：使用低倍物鏡，不用伯特蘭透鏡（Bertrand Lens）,同時為使照明孔徑變小，移出聚光鏡的頂透鏡。正相鏡檢用于檢查物體的雙折射性，分為兩種觀察方式：

（1）單偏光鏡下觀測：使用起偏鏡（或下偏光鏡），觀測標本的某些外表特征，如形態(tài)、解理、顏色、多色性、突起、糙面等。

（2）正交偏光鏡下觀測：同時使用起偏鏡和檢偏鏡，觀測標本的消光和消光位、干涉色和色級、雙晶特征等。

（二）錐光鏡檢（Conoscopic）：又稱干涉鏡檢，使用起偏鏡、檢偏鏡及聚光鏡的組合來觀察干涉圖，以確定礦物的軸性、光性正負、光軸角（2V）等晶體光學特征。在起偏鏡上移入聚光鏡的頂透鏡，使平行偏光束變?yōu)殄F形偏光束射入標本，經(jīng)上偏光鏡后發(fā)生消光和干涉，可以去掉目鏡直接觀察干涉圖像，也可以把伯氏鏡與目鏡組合成一個望遠鏡式的放大系統(tǒng)，觀察放大的干涉圖像。